芯片冷熱沖擊試驗箱

芯片冷熱沖擊試驗箱用于電工電子電器機械等零組件、自動化零部件、國防工業行業、航空航天研究所、兵工業、通訊產品或組件、汽車成品或配件、金屬材料、化學材料、五金塑膠、LED、LCD光電、光伏、照明、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對冷、熱溫的快速反復抵抗力及工業產品處于熱脹冷縮的環境時所出現的化學變化或者物理傷害，可確認工業產品的質量,從精密的IC到重機械的組件，可作為工業行業眾多產品改進質量的依據或參考。以便考核產品的適應性或對測試產品的行

為作出評價。是新產品研發、樣機實驗、產品合格鑒定試驗全過程的重要試驗手段。

參照標準：

GB/T2423.1-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分試驗方法 試驗A 低溫

GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫

GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術條件

芯片冷熱沖擊試驗箱技術參數：

溫度范圍可選：-40~150℃；-55~150℃；-65~150℃

高溫儲溫區：+60℃~+200℃

低溫儲溫區：-10℃~-75℃;

溫度循環沖擊恢復時間： 3~5min內；溫度循環沖擊移動時間： ≤10sec內。

升溫時間(蓄熱區) ：RT~200℃約需35min；降溫時間(蓄冷區) ：RT~-70℃約需85min

內箱尺寸可選擇：35×35×40、50×40×40、60×50×50、70×60×60

內外箱材質：外殼防銹處理冷軋鋼板(噴塑)或不銹鋼板（SUS304）；內箱100%保證為不銹鋼板(SUS304) ，絕熱材料為聚氨酯泡沫和玻璃纖維

氣動氣缸：高溫、環境溫度、低溫曝露時的各個風門驅動用

空氣壓縮機：提供驅動氣動風門的壓縮空氣（選件）

安全裝置：超溫保護裝置、漏電保護裝置、短路保護裝置、電機過熱保護裝置、壓縮機超壓保護裝置、超載保護裝置、過電流保護裝置等。