高加速老化試驗箱

產品用途：

高加速老化試驗箱廣泛適用于IC、PCB、LCD Board、電池、電容、電阻,及其它電子零件之高溫、高濕、高壓等信賴性試驗, 比較傳統之恒溫恒濕設備85/85%R.H.試驗時,

可以節省大量時間, 當測試溫度越高, 壓力越大,測試時間縮短越多, 在質量檢驗上大量節省電力, 人力, 物力, 提升產品競爭力.有多種型號可選擇。

產品特點：

1. 采用進口耐高溫電磁閥雙路結構，在上降低了使用故障率。

2. 獨立蒸汽發生室，避免蒸汽直接沖擊產品，以免造成產品局部破壞。

3. 門鎖電控制動結構，解決代產品圓盤式手柄的鎖緊困難的缺點。

高加速老化試驗箱性能

 1.1 設定溫度:  +100 ℃  ～ +147 ℃( 蒸氣溫度 )

      1.2 濕度范圍:  75~100 % 蒸氣濕度
      1.3濕度控制穩定度：±3%RH

      1.3 使用壓力: 1.2~2.89kg(含1atm)

      1.4 時間范圍: 0 Hr ～ 999 Hr

      1.5 加壓時間:  0.00 Kg ～ 1.04 Kg / cm2  約 45 分

      1.6 溫度波動均勻度 : ±0.5℃

      1.7 溫度顯示精度：0.1℃

      1.8 壓力波動均勻度 : ±0.1Kg

      1.9 濕度分布均度：±3%RH

安全保護：

       a.進口耐高溫密封電磁閥，采用雙回路結構，保證壓力無泄露。

     b.整機配備超壓保護，超溫保護，一鍵泄壓，手動泄壓多重安全保障裝置，在上保證用戶

       的使用和安全。

     c.反壓門鎖裝置，在試驗室內部有壓力時，試驗箱門無法打開.